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OMNIS IC 设备:MiPCT-ME

6.05331.130

  • 功能概述

用于 OMNIS IC 中富集及基质消除进样的附件套件:使用该技术,在 OMNIS IC 上可分析 ng/L 级别的样品。英蓝富集使用富集柱代替样品环。当精确体积的样品被转移到富集柱时,相应的离子会被保留。分析物富集后,可以用超纯水将样品中的非离子成分从富集柱上冲洗掉。样品中的非离子成分不会干扰分析物的检测。OMNIS Dosing Drive Unit 允许仅用一种标准溶液进行校正,因为进样体积可以自由选择。样品进样亦是如此。
 
前提:

配备 OMNIS IC AS/ASCOOL 的 OMNIS IC S/M/L,包括:

  • 可用的 OMNIS Dosing Drive Unit
  • 可用的 OMNIS MISP Unit

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